ハーバー半導体

シンクロトロン(X線)窒化ケイ素薄膜ウィンドウ
蛍光X線分析、電子エネルギー分光、X線回折、X線吸収などに広く使用されています。最先端のMEMS製造プロセスで作られています。
データシート
窒化珪素薄膜窓のプロダクトシート

製品詳細

販売台数
10個/パック
チップサイズ
5×5mm、7.5×7.5mm、10×10mm
チップの厚み
200 μm
フィルム厚み
10 nm, 20 nm, 30 nm, 50 nm, 100 nm, 200 nm
ウィンドウの大きさ
0.1×0.1, 0.25×0.25, 0.5×0.5, 1×1, 1.5×1.5, 2×2, 3×3, 5×5 mm
窓の数
1個
開口部サイズ
ホールなし
ストレス状態
<250MPa

窒化ケイ素膜の優位性:

  • 耐酸性・耐アルカリ性:酸やアルカリ性の条件下でもサンプルの操作や研究が可能です。
  • 高温耐性:フィルムは1000℃まで耐えることができる
  • カーボンフリー、洗浄が容易
  • 大きなビジョン
  • TEM、SEM、FIB、EDX、オージェ、XPS、AFM/SPMなど、さまざまな顕微鏡をサポートしています。

私たちの製品の長所です:

  • 10、20、30、50、100、200nmの厚さのロバストシリコンナイトライドフィルム
  • 標準仕様:標準的な3.05mm TEMマウントと完全に互換性があります。
  • フレーム厚は標準の200μmと薄型の100μmがあります。
  • 親水性/疎水性窒化ケイ素膜はご要望に応じます。
  • クリーンで極めてフラットな窒化ケイ素膜を実現
  • 高い強度と平坦性を持つ
  • 低ストレス

当社の窒化ケイ素支持膜は、最先端の半導体・MEMS製造技術を駆使して製造されています。アモルファス窒化シリコン支持膜は、シリコンウェハー上に10、20、30、50、100、200 nmの必要な膜厚に成長させます。

試料の観察領域は、シリコン基板の窓をエッチングで取り除き、完全に滑らかで柔軟性があり、化学的に安定した窒化シリコン膜を残すことで作成されます。フレームは、3mmのシリコンディスクを使用して製造されています。標準的なTEMマウントに最適です。シリコンフレームの標準的な厚さは100μm/200μmで、ほとんどのTEMマウントに適しています。

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